Active-layer thickness estimation from X-band SAR backscatter intensity.
Загрузка...
Дата
Название журнала
ISSN журнала
Название тома
Издатель
PANGAEA
Аннотация
Описание
Цитирование
Widhalm, Barbara; Bartsch, Annett; Leibman, Marina O; Khomutov, Artem V (2017): Active-layer thickness estimation from X-band SAR backscatter intensity. The Cryosphere, 11(1), 483-496, https://doi.org/10.5194/tc-11-483-2017