Пространственное распределение «янтарных» (amber) дефектов в алмазе: результаты ИК картирования

Show simple item record

dc.contributor.author Ширяев А.А.
dc.contributor.author Титков С.В.
dc.date.accessioned 2021-11-10T06:25:32Z
dc.date.available 2021-11-10T06:25:32Z
dc.date.issued 2018
dc.identifier.citation Новые данные о минералах, 2018, том 52, стр. 87 - 90
dc.identifier.issn 1816-546X
dc.identifier.uri https://repository.geologyscience.ru/handle/123456789/31108
dc.description.abstract Методом инфракрасной микроспектроскопии исследовано пространственное распределение точечных дефектов в пластинах, вырезанных из природных алмазов. Показано, что пространственное распределение так называемых «янтарных» (amber) дефектов не связано напрямую с распределением азотных А-центров, скорее наблюдается антикорреляция между ними. На основании полученных данных можно предположить, что образование «янтарных» дефектов хотя и, вероятно, связано с деформационными процессами, требует сравнительно редкой комбинации ростовых точечных дефектов.
dc.language.iso ru
dc.publisher Минералогический музей им. А.Е. Ферсмана РАН (Москва)
dc.subject алмаз
dc.subject инфракрасная спектроскопия
dc.subject «янтарные» дефекты
dc.title Пространственное распределение «янтарных» (amber) дефектов в алмазе: результаты ИК картирования
dc.type Статья


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record