Исследование кристалличности кварца и халцедона методами ИК-спектроскопии, дифрактометрии и электронной микроскопии

dc.contributor.author	Плюснина И.И.
dc.date.accessioned	2021-11-13T12:09:22Z
dc.date.available	2021-11-13T12:09:22Z
dc.date.issued	1983
dc.identifier.citation	Новые данные о минералах CCCP, 1983, Выпуск 31, стр. 97-108
dc.identifier.uri	https://repository.geologyscience.ru/handle/123456789/31356
dc.description.abstract	Для исследования совершенства кристаллов очень широко применяют такие дифракционные методы как рентгенография, электронография и нейтронография. Наибольшее распространение имеет рентгеновская топография, дающая непосредственное изображение отдельных дефектов кристалла, и метод, основанный на измерении угловой ширины рентгеновских дифракционных максимумов.
dc.language.iso	ru
dc.publisher	Минералогический музей им. А.Е. Ферсмана РАН (Москва)
dc.title	Исследование кристалличности кварца и халцедона методами ИК-спектроскопии, дифрактометрии и электронной микроскопии
dc.type	Статья

Files in this item

Name: NDM_1983_31_Plyus ...

Size: 3.104Mb

Format: PDF