Исследование кристалличности кварца и халцедона методами ИК-спектроскопии, дифрактометрии и электронной микроскопии

Show simple item record

dc.contributor.author Плюснина И.И.
dc.date.accessioned 2021-11-13T12:09:22Z
dc.date.available 2021-11-13T12:09:22Z
dc.date.issued 1983
dc.identifier.citation Новые данные о минералах CCCP, 1983, Выпуск 31, стр. 97-108
dc.identifier.uri https://repository.geologyscience.ru/handle/123456789/31356
dc.description.abstract Для исследования совершенства кристаллов очень широко применяют такие дифракционные методы как рентгенография, электронография и нейтронография. Наибольшее распространение имеет рентгеновская топография, дающая непосредственное изображение отдельных дефектов кристалла, и метод, основанный на измерении угловой ширины рентгеновских дифракционных максимумов.
dc.language.iso ru
dc.publisher Минералогический музей им. А.Е. Ферсмана РАН (Москва)
dc.title Исследование кристалличности кварца и халцедона методами ИК-спектроскопии, дифрактометрии и электронной микроскопии
dc.type Статья


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record