ПРИМЕНЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ, ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ И РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ПРИРОДЫ ДЕФЕКТОВ В ЛЕНТОЧНО-ЦЕПОЧЕЧНЫХ СИЛИКАТАХ - Черкашин В.И.; Дриц В.А.; Букин А.С.; Хаджи И.Л. (My University, 1986)