Исследование кристалличности кварца и халцедона методами ИК-спектроскопии, дифрактометрии и электронной микроскопии - Плюснина И.И. (Минералогический музей им. А.Е. Ферсмана РАН (Москва), 1983)
Для исследования совершенства кристаллов очень широко применяют такие дифракционные методы как рентгенография, электронография и нейтронография. Наибольшее распространение имеет рентгеновская топография, дающая непосредственное изображение отдельных дефектов кристалла, и метод, основанный на измерении угловой ширины рентгеновских дифракционных максимумов.