ПРИМЕНЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ, ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ И РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ПРИРОДЫ ДЕФЕКТОВ В ЛЕНТОЧНО-ЦЕПОЧЕЧНЫХ СИЛИКАТАХ

dc.contributor.author	Черкашин В.И.
dc.contributor.author	Дриц В.А.
dc.contributor.author	Букин А.С.
dc.contributor.author	Хаджи И.Л.
dc.date.accessioned	2020-02-17T08:21:55Z
dc.date.available	2020-02-17T08:21:55Z
dc.date.issued	1986
dc.identifier	https://elibrary.ru/item.asp?id=21837771
dc.identifier.citation	ИЗВЕСТИЯ АКАДЕМИИ НАУК СССР. СЕРИЯ ГЕОЛОГИЧЕСКАЯ, 1986, , 3, 548
dc.identifier.uri	https://repository.geologyscience.ru/handle/123456789/15884
dc.title	ПРИМЕНЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ, ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ И РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ПРИРОДЫ ДЕФЕКТОВ В ЛЕНТОЧНО-ЦЕПОЧЕЧНЫХ СИЛИКАТАХ
dc.type	Статья

Files in this item

Files	Size	Format	View
There are no files associated with this item.