Active-layer thickness estimation from X-band SAR backscatter intensity.

Дата

Название журнала

ISSN журнала

Название тома

Издатель

PANGAEA

Аннотация

Описание

Цитирование

Widhalm, Barbara; Bartsch, Annett; Leibman, Marina O; Khomutov, Artem V (2017): Active-layer thickness estimation from X-band SAR backscatter intensity. The Cryosphere, 11(1), 483-496, https://doi.org/10.5194/tc-11-483-2017

Коллекции

Подтверждение

Обзор

Дополнено

Упоминается в