Исследование кристалличности кварца и халцедона методами ИК-спектроскопии, дифрактометрии и электронной микроскопии
Дата
Авторы
Название журнала
ISSN журнала
Название тома
Издатель
Минералогический музей им. А.Е. Ферсмана РАН (Москва)
Аннотация
Для исследования совершенства кристаллов очень широко применяют такие дифракционные методы как рентгенография, электронография и нейтронография. Наибольшее распространение имеет рентгеновская топография, дающая непосредственное изображение отдельных дефектов кристалла, и метод, основанный на измерении угловой ширины рентгеновских дифракционных максимумов.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Новые данные о минералах CCCP, 1983, Выпуск 31, стр. 97-108