ПРИМЕНЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ, ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ И РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ПРИРОДЫ ДЕФЕКТОВ В ЛЕНТОЧНО-ЦЕПОЧЕЧНЫХ СИЛИКАТАХ
Дата
Название журнала
ISSN журнала
Название тома
Издатель
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Цитирование
ИЗВЕСТИЯ АКАДЕМИИ НАУК СССР. СЕРИЯ ГЕОЛОГИЧЕСКАЯ, 1986, , 3, 548