ПРИМЕНЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ, ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ И РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ПРИРОДЫ ДЕФЕКТОВ В ЛЕНТОЧНО-ЦЕПОЧЕЧНЫХ СИЛИКАТАХ
| dc.contributor.author | Черкашин В.И. | |
| dc.contributor.author | Дриц В.А. | |
| dc.contributor.author | Букин А.С. | |
| dc.contributor.author | Хаджи И.Л. | |
| dc.date.accessioned | 2020-02-17T08:21:55Z | |
| dc.date.available | 2020-02-17T08:21:55Z | |
| dc.date.issued | 1986 | |
| dc.identifier | https://elibrary.ru/item.asp?id=21837771 | |
| dc.identifier.citation | ИЗВЕСТИЯ АКАДЕМИИ НАУК СССР. СЕРИЯ ГЕОЛОГИЧЕСКАЯ, 1986, , 3, 548 | |
| dc.identifier.uri | https://repository.geologyscience.ru/handle/123456789/15884 | |
| dc.title | ПРИМЕНЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ, ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ И РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ПРИРОДЫ ДЕФЕКТОВ В ЛЕНТОЧНО-ЦЕПОЧЕЧНЫХ СИЛИКАТАХ | |
| dc.type | Статья |